半導(dǎo)小芯測(cè)試機(jī)

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發(fā)布時(shí)間：2024年05月23日

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半導(dǎo)體測(cè)試機(jī)是半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)中的關(guān)鍵設(shè)備，用于對(duì)芯片進(jìn)行電氣特性測(cè)試和功能驗(yàn)證。它具備多個(gè)插槽，可自動(dòng)化執(zhí)行測(cè)試程序，生成測(cè)試報(bào)告和數(shù)據(jù)分析結(jié)果，是確保芯片質(zhì)量和性能的重要工具。

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