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模型說(shuō)明
半導(dǎo)體晶圓缺陷檢測(cè)設(shè)備:能夠?qū)崿F(xiàn)對(duì)晶圓表面的詳細(xì)觀察和分析。它具有自動(dòng)化的缺陷檢測(cè)功能，可以通過(guò)圖像處理和計(jì)算機(jī)視覺(jué)技術(shù)，快速準(zhǔn)確地檢測(cè)出晶圓表面上的各種缺陷，如劃痕、凹凸、顆粒、孔洞等。
評(píng)論
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